A63.7069 Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, Std. SEM, 6x ~ 600000x

Kort beskrivelse:

  • 6x ~ 60000x Wolfram Filament Scanning Electron Microscope, Std. SEM
  • Oppgraderbar LaB6, røntgendetektor, EBSD, CL, WDS, belegningsmaskin og etc.
  • Multi Modification EBL, STM, AFTM, Heatign Stage, Cryo Stage, Tensile Stage, SEM + Laser And Etc.
  • Automatisk kalibrering, automatisk feil deteksjon, lave kostnader for vedlikehold og reparasjon
  • Enkelt og vennlig betjeningsgrensesnitt, alt kontrollert av mus i Windows-system
  • Minimum antall:1

->


Produkt detalj

Produktetiketter

A63.7069_01.jpg

produktbeskrivelse
A63.7069 Wolframfilament Skannende elektronmikroskop, Std. SEM
Vedtak 3nm @ 30KV (SE); 6nm @ 30KV (BSE)
Forstørrelse Negativ forstørrelse: 6x ~ 300000x; Skjermforstørrelse: 12x ~ 600000x
Elektronpistol Tungsten oppvarmet katodefor-sentrert Tungsten-filamentpatron
Akselererende spenning 0 ~ 30KV
Linsesystem Tre-nivå elektromagnetisk linse (konisk linse)
Objektiv blenderåpning Molybdenåpningsjusterbart utsides vakuumsystem
Prøvestadium Fem akser scene
Reiserekkevidde X (Auto) 0 ~ 80mm
Y (Auto) 0 ~ 60mm
Z (manuell) 0 ~ 50mm
R (manuell) 360º
T (manuell) -5º ~ 90º
Maks. Prøvediameter 175mm
Detektor SE: Høyvakuum sekundær elektrondetektor (med detektorbeskyttelse)
BSE: Semiconductor Four Segmentation Back Scattering Detector
CCD
Endring Stage Upgrade; EBL; STM; AFM; Heat Stage; Cryo Stage; Tensile Stage; Micro-nano Manipulator; SEM + Coating Machine; SEM + Laser
Tilbehør CCD, LaB6, røntgendetektor (EDS), EBSD, CL, WDS, belegningsmaskin
Vakuumsystem Turbomolekylære pumper; Rotasjonspumpe
Elektronstrålestrøm 10pA ~ 0,1μA
PC Tilpasset Dell arbeidsstasjon

A63_05.jpg

A63_06.jpg

A63_07.jpg

A63_08.jpg

A63_09.jpg

A63_10.jpg

A63_10_02.jpg

Fordel og saker

Skannelektronmikroskopi (sem) er egnet for observasjon av overflatetopografien til metaller, keramikk, halvledere, mineraler, biologi, polymerer, kompositter og nanoskala, endimensjonale, todimensjonale og tredimensjonale materialer (sekundært elektronbilde, backscattered elektron image). Det kan brukes til å analysere punkt, linje og overflatekomponenter i mikroregion. Det er mye brukt i petroleum, geologi, mineralfelt, elektronikk, halvlederfelt, medisin, biologifelt, kjemisk industri, polymer materiale felt, kriminell etterforskning av offentlig sikkerhet, jordbruk, skogbruk og andre felt.A63_13.jpg

A63_14.jpg

A63_15.jpg

firmainformasjon

_02_01.jpg

OPTO-EDU, som en av de mest profesjonelle produsentene og leverandørene av mikroskop i Kina, vårt undermerke CNOPTEC-serie high end biologisk, laboratorium, polariserende, metallurgisk, fluorescensmikroskop, CNCOMPARISON-serien rettsmedisinsk mikroskop, A63-serien SEM-mikroskop, og .49 serie digitalkamera, LCD-kamera er veldig populære på verdensmarkedet.

_02_03.jpg

_02_04.jpg


  • Tidligere:
  • Neste:

  • Skriv meldingen din her og send den til oss